X-光扫描成像分析系统详细信息
仪器生产商 德国LemnaTec GmbH公司
资产编号 2301570S
资产负责人 王梓廷
购置日期 1970-01-01
仪器价格 2378500  元
仪器产地 德国
分类号 3100232
出厂日期 1970-01-01
主要规格及技术指标 分辨率1920 x 1080全高清 植物根系
主要功能及特色 植物根系 X-光扫描成像分析系统是一个多功能的成像柜,设计用于植物和小型生物体的根系系统进行分析,通过测量土壤原位状态下的根系系统,对根系进行全面的表型分析,获取根的长度、根区变化、根系的长度和宽度、每土层根数/根系密度、根系形态。
主要附件及配置 1.相机数量:3个 2.相机类型:Grayscale相机 3.分辨率:根系测量相机分辨率不低于1200万像素;植物地上部分相机分辨率不低于1600万像素 4.传感器:IMX304 5.传感器类型:CMOS 6.传感器尺寸:Type 1.1 7.像素大小:3.45 μm × 3.45 μm 8.镜头接口:C接口 9.全分辨率时最大帧频:9.7fps 10.多光谱测量:配备滤光轮及多通道LED背景光源,实现多光谱测量 11.X光相机参数.分辨率:不低于2940 × 2304像素; 12.植物样品定位系统,支持扫描底部侧视图、顶部侧视图、前视图、底部视图、顶部视图的植物根结构; 13.X-射线防护装置,可耐受全日照的UV强度; 14.根系需要在特殊介质中培养 15.根盒:不小于尺寸420 mm (长) X 240 mm (宽) 16.可直接测量数据:根的长度、根区变化、根系的长度和宽度、每土层根数/根系密度、根系形态、可定制化开发其他参数;可测定种子数量、大小、形状等多个几何参数,颜色、颜色分级;可测量水果数量、大小、形状、质心等多个几何参数,颜色、颜色分级;可测量植物高度、大小、形状、圆度、质心等多个几何参数,颜色、颜色分级、叶面积、叶病斑等。多光谱参数:NDVI等各类植被指数,配测量GFP。 17.间接计算数据:生长速率、生物量(需校准)、非生物胁迫(包括衰老、变色后的叶片变化)、生物胁迫(包括染病、坏死的叶片变化)、昆虫相关实验(包括幼虫生长、产卵、组织变化等) 软件:采集图像对植物根结构进行3D重建,支持植物根系与土壤图像切割,从根系的三维点云计算根系性状包含根系特征类角度、直径和长度等,软件可控制箱体成像、图像数据采集、图像数据分析等,可生成PDF数据报告,报告基于R统计分析,可直接生成图表和原始数据。分析过程采用建立工作流程模式(自带算法),支持多种工作流程以满足不同需求的表型实验。