| 仪器生产商 | 日本朱式会社理学 |
| 资产编号 | 1604828S |
| 资产负责人 | 张威 |
| 购置日期 | 2016-09-27 |
| 仪器价格 | 1399000 元 |
| 仪器产地 | 日本 |
| 分类号 | 03030502 |
| 出厂日期 | 2016-09-27 |
| 主要规格及技术指标 | "1. X射线发生器功率为3KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有） 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件（理学独有） 11. 高速探测器D/teX-Ultra 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 " |
| 主要功能及特色 | X-射线多晶粉末衍射仪是集粉末衍射、应力和极图分析、小角散射、薄膜分析等为一体的旗舰级X射线分析设备，可以进行材料的物相鉴定及定量分析；原子排列与占位分析；纳米材料的晶粒度和颗粒度测定；应力、织构、取向度和结晶度的测定；薄膜物相及物性分析等，是研究材料原子尺度结构不可或缺、起决定性作用的设备。 |
| 主要附件及配置 | 无 |