| 仪器生产商 | 英国雷尼绍公司 |
| 资产编号 | 1912620S |
| 资产负责人 | 张威 |
| 购置日期 | 2019-11-07 |
| 仪器价格 | 2209050 元 |
| 仪器产地 | 英国 |
| 分类号 | 03040405 |
| 出厂日期 | 2019-11-07 |
| 主要规格及技术指标 | 英国Renishaw inVia Reflex具有灵敏度高,分辨率好、重复性及稳定性好等特点。灵敏度高于30:1(硅三阶峰信噪比),重复性(光栅连续转动时)达到0.05 cm-1 ,光谱分辨率1cm-1,空间分辨率在XY平面<0.4微米,在Z轴方向<1.5微米。 |
| 主要功能及特色 | 本显微激光共焦拉曼光谱仪主要用于各种纳米材料的测试。该系统能够在紫外到近红外的光谱范围内测量物质的拉曼光谱,应具有超高灵敏度、分辨率和重复性;共焦显微功能应保证高空间分辨率。仪器具有较高整体性和稳定性,具有较高的自动化程度,操作方便、扩展灵活。 |
| 主要附件及配置 | 1.主机 1.1激光器 1.1.1.325nm激发波长,激光器功率不低于30mW 1.1.2.532nm激发波长,激光器功率不低于50mW。 1.1.3.632.8nm激发波长,激光器功率不低于17mW。 1.1.4.785nm激发波长,激光器功率不低于100mW。 1.2光谱仪 1.2.1光谱仪设计:无像散,单级光谱仪,焦距在240mm以上。 1.2.2系统总通光效率大于40%。 1.2.3高灵敏度:硅三阶峰(约在1440cm-1)的信噪比好于30:1,并能观察到四阶峰。检测条件:使用单晶硅片,波长532nm,激光到达样品功率10mW,狭缝宽度(或针孔)<=50微米,需使用1800线或更高刻线的高分辨光栅,曝光时间100秒,累加次数3次(或曝光时间60秒,累加次数5次),binning等于1,显微镜头为x50或x100倍。 1.2.4光谱范围:200nm到1100nm,全光谱范围内可快速连续扫描,无接谱。其中: 325nm激发波长,光谱范围:330-1100nm; 532nm激发波长,光谱范围:100-9000cm-1; 632.8nm激发波长,光谱范围:100-6000cm-1; 785nm激发波长,光谱范围:100-3500cm-1。 1.2.5光谱分辨率:好于1cm-1。检验标准:使用氖灯作为信号源,大于等于1800线高分辨光栅,测试17086ABScm-1发光线,其半高全宽小于1波数(FWHM<1cm-1)。 1.2.6光栅使用1200(NIR)、1800(Vis)、2400(UV)刻线/毫米高分辨率光栅,并能软件控制自动转换。并能实现光栅连续转动的全谱扫描方式,保证高分辨率下的无接谱。 1.2.7光谱重复性:<±0.05cm-1。采用光栅尺反馈控制系统控制光栅的精确定位和重复性。检验标准:使用表面抛光的单晶硅做样品,采用50×物镜,1800刻线/毫米光栅,扫描范围100~4000cm-1,重复50次。观测硅拉曼峰(520cm-1),520峰中心位置重复性<±0.05cm-1。光栅不转动时(静态取谱),520峰中心位置重复性<±0.02cm-1。 1.3共焦技术 1.3.1采用新型数字化针孔真共焦显微技术(数字化控制狭缝和CCD区域),以避免仪器的不稳定性和复杂的光路调整。 1.3.2软件控制自动调整狭缝大小,在10-2000um范围内连续可调。 1.3.3*在x100倍镜头下,空间分辨率<=0.4微米,共聚焦深度剖析分辨率<=1.5微米,共焦深度连续可调。检测条件: 空间分辨率:使用表面抛光的单晶硅锐利边缘做样品,在共焦条件下,采用100×物镜,沿垂直于锐利边缘的方向由单晶硅表面扫描至单晶硅外,步长为0.1um,将扫描所得到所有硅拉曼峰进行拟合,得到硅峰信号强度的变化曲线。Si强度变化的带边宽度即空间分辨率应<0.4微米 共聚焦深度剖析分辨率:使用表面抛光的单晶硅做样品,在共焦条件下,采用100×物镜,沿垂直于单晶硅平面方向,由单晶硅表面上方扫描至单晶硅内部,步长为0.1um,将扫描所得到所有硅拉曼峰进行拟合,得到硅峰信号强度的变化曲线,硅520cm-1峰的强度形成的曲线的半高宽即共聚焦深度剖析分辨率<1.5微米 1.4共焦显微镜 1.4.1*高稳定性研究级进口徕卡原装显微镜; 1.4.210X原装目镜,5X、20X、100X、50X长焦物镜; 1.4.3显微镜厂家原装透射和反射柯勒照明; 1.4.4彩色摄像头,可在计算机上显示存储图像。 1.5计算机与打印机 1.6全套软件包。包含快速数据采集、处理等功能模块。内置扫描控制及数据处理软件,可方便快速地处理数据,并基于以下指标实时进行数据分析和成像: 某一个拉曼信号的强度 拉曼信号特定范围强度的综合信息 成分含量分布信息高分辨图象 2.附件 2.1配置带光栅尺反馈控制系统的xyz三维自动平台 2.1.1*XYZ自动平台,扫描范围:X>100毫米,Y>70毫米。 2.1.2最小步长为0.1微米。 2.1.3带手动操作杆,可软件自动控制驱动。 2.1.4可对样品测量部位自动定位并进行拉曼成像,进行分散的多点、线、面扫描和共焦深度的扫描成像, 2.1.5*采用光栅尺反馈控制系统自动控制克服反向间隙,保证原始点的重复性。 2.1.6用软件可连接摄像头采集图像,扩展了显微镜的视场,也可使自动平台的扫描区域扩大。 2.1.7包括Z轴自动聚焦硬件及软件。 2.2大面积(大体积)快速扫描成像附件 2.2.1不同波长自动控制切换的点聚焦组件,和自动聚焦的信号收集透镜组。适用于325nm、532nm、632.8nm、785nm激发波长。 2.2.2多变量化学统计数据分析软件包。 2.2.3*超快速拉曼成像,可达1000张谱图/秒。 2.2.4*能实现样品的三维实体(不同深度)拉曼扫描成像(3Dmapping)。 |