仪器生产商：德国LemnaTec GmbH公司

资产编号：2301570S

资产负责人：王梓廷

购置日期：1970-01-01

仪器价格：2378500 元

仪器产地：德国

分类号：3100232

出厂日期：1970-01-01

主要规格及技术指标：

分辨率1920 x 1080全高清 植物根系

主要功能及特色：

植物根系 X-光扫描成像分析系统是一个多功能的成像柜，设计用于植物和小型生物体的根系系统进行分析，通过测量土壤原位状态下的根系系统，对根系进行全面的表型分析，获取根的长度、根区变化、根系的长度和宽度、每土层根数/根系密度、根系形态。

主要附件及配置：

1.相机数量：3个 2.相机类型：Grayscale相机 3.分辨率：根系测量相机分辨率不低于1200万像素；植物地上部分相机分辨率不低于1600万像素 4.传感器：IMX304 5.传感器类型：CMOS 6.传感器尺寸：Type 1.1 7.像素大小：3.45 μm × 3.45 μm 8.镜头接口：C接口 9.全分辨率时最大帧频：9.7fps 10.多光谱测量：配备滤光轮及多通道LED背景光源，实现多光谱测量 11.X光相机参数.分辨率：不低于2940 × 2304像素； 12.植物样品定位系统，支持扫描底部侧视图、顶部侧视图、前视图、底部视图、顶部视图的植物根结构； 13.X-射线防护装置，可耐受全日照的UV强度； 14.根系需要在特殊介质中培养 15.根盒：不小于尺寸420 mm (长) X 240 mm (宽) 16.可直接测量数据：根的长度、根区变化、根系的长度和宽度、每土层根数/根系密度、根系形态、可定制化开发其他参数；可测定种子数量、大小、形状等多个几何参数，颜色、颜色分级；可测量水果数量、大小、形状、质心等多个几何参数，颜色、颜色分级；可测量植物高度、大小、形状、圆度、质心等多个几何参数，颜色、颜色分级、叶面积、叶病斑等。多光谱参数：NDVI等各类植被指数，配测量GFP。 17.间接计算数据：生长速率、生物量（需校准）、非生物胁迫（包括衰老、变色后的叶片变化）、生物胁迫（包括染病、坏死的叶片变化）、昆虫相关实验（包括幼虫生长、产卵、组织变化等） 软件：采集图像对植物根结构进行3D重建，支持植物根系与土壤图像切割，从根系的三维点云计算根系性状包含根系特征类角度、直径和长度等，软件可控制箱体成像、图像数据采集、图像数据分析等，可生成PDF数据报告，报告基于R统计分析，可直接生成图表和原始数据。分析过程采用建立工作流程模式（自带算法），支持多种工作流程以满足不同需求的表型实验。